Analisis kesalahan umum dan perbaikan struktural katup periksa wafer pelat ganda

1. Dalam aplikasi teknik praktis, kerusakanKatup periksa wafer pelat gandas disebabkan oleh banyak alasan.

(1) Di bawah gaya tumbukan media, area kontak antara bagian penghubung dan batang pemosisian terlalu kecil, sehingga mengakibatkan konsentrasi tegangan per satuan luas, dankatup periksa wafer pelat ganda rusak akibat nilai tegangan yang berlebihan.

(2) Pada pekerjaan sebenarnya, jika tekanan sistem perpipaan tidak stabil, sambungan antara cakramkatup periksa wafer pelat ganda dan batang pemosisian akan bergetar maju mundur dalam sudut putaran tertentu di sekitar batang pemosisian, sehingga terjadi gesekan antara cakram dan batang pemosisian, yang memperparah kerusakan bagian sambungan.

2. Rencana perbaikan

Sesuai dengan bentuk kegagalan ituKatup periksa wafer pelat ganda, struktur cakram katup dan bagian sambungan antara cakram katup dan batang pemosisian dapat ditingkatkan untuk menghilangkan konsentrasi tegangan pada bagian sambungan, mengurangi kemungkinan kegagalankatup periksa wafer pelat gandasedang digunakan, dan memperpanjang periode pemeriksaan. masa pakai katup. CakramituKatup periksa wafer pelat ganda dan hubungan antara cakram dan batang pemosisian masing-masing ditingkatkan dan dirancang, dan perangkat lunak elemen hingga digunakan untuk mensimulasikan dan menganalisis, dan skema yang ditingkatkan untuk memecahkan masalah konsentrasi tegangan diusulkan.

(1) Memperbaiki bentuk cakram, mendesain alur pada cakramkatup periksa untuk mengurangi kualitas cakram, sehingga mengubah distribusi gaya cakram, dan mengamati gaya cakram dan hubungan antara cakram dan batang pemosisian. situasi kekuatan. Solusi ini dapat membuat gaya cakram katup lebih seragam, dan secara efektif meningkatkan konsentrasi teganganKatup periksa wafer pelat ganda.

(2) Memperbaiki bentuk cakram, dan melaksanakan desain penebalan berbentuk busur di bagian belakang cakram katup periksa untuk meningkatkan kekuatan cakram, sehingga mengubah distribusi gaya cakram, membuat gaya cakram lebih seragam, dan meningkatkan konsentrasi tegangan pemeriksaan kupu-kupu katup.

(3) Memperbaiki bentuk bagian sambungan antara cakram katup dan batang pemosisian, memanjangkan dan menebalkan bagian sambungan, serta menambah luas kontak antara bagian sambungan dan bagian belakang cakram katup, sehingga meningkatkan konsentrasi tegangan katup periksa wafer pelat ganda.